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신뢰성 시험규격

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신뢰할수 있는 KEC가 되겠습니다.
반도체 제품에 적용되는 표준적인 시험 방법은 JEDEC 규격, MIL 규격, EIAJ 규격, JIS 규격 등이 있으며, KEC는 이런 기준을 참고하여 시험을 실시합니다.

JEDEC 규격

  • JJESD22 : 반도체 소자의 시험 방법

미국 군용 규격(MIL규격) : U.S Military Standards

  • MIL-STD-202 : 전기 & 전자 부품의 시험 방법
  • MIL-STD-750 : 반도체 소자의 시험 방법
  • MIL-STD-883 : 극소 전자 부품 시험 방법 및 절차

일본 전자공업협회 표준규격(EIAJ 규격) : Electronic Industries Association Of Japan Standards

  • EIAJ ED-4701 : 반도체 부품에 대한 환경 및 내구성 시험 방법
  • EIAJ ED-4702 : 표면실장 부품의 기계적 시험 방법

일본 공업 규격(JIS 규격) : Japanese Industrial Standards

  • JIS C7021 : 개별 반도체 소자의 환경시험 방법 및 내구성 시험방법
  • JIS C7030 : 트랜지스터 측정 방법
  • JIS C7032 : 트랜지스터 총칙
  • JIS C7210 : 신뢰성 보증 개별 반도체 디바이스 통칙

KEC 자동차용 신뢰성 보증 AEC-Q 100, AEC-Q 101