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신뢰성 시험

종류 내용 규격
연속동작 수명시험 소자를 장시간에 걸쳐 전기적 Stress(전압, 전류) 및 온도 Stress(부하에 의한 온도 상승 포함)를 주어 내성을 평가한다.
· Discrete 시험 조건

Ta = 25℃, VC = VCEO MAX × 0.7, PC = PC MAX, 1008Hr

· IC 시험 조건

Ta = TOPR MAX, PD = PD MAX, 1008HR

· JESD22-A108
· JIS C7021 B-4
· MIL-STD 883E-105
단속동작 수명시험 소자를 단속적으로 통전하여 온(On)상태와 오프(Off)상태에 상당하는 온도의 상승과 하강에 대해 전기적 조건을 인가하여 소자의 전기적, 기계적 성능을 평가한다
Ta = 25℃, ON/OFF Operation, △Tj≥100℃, Rated Cycles
MIL-STD 750D
· JIS C7021 B-6
고온 역바이어스 수명시험 소자를 장시간에 걸쳐 전기적 Stress(전압) 및 온도 Stress(Ta = TJ MAX)를 주어 내성을 평가한다.
· Ta = TJ MAX, VCB = VCBO MAX × 0.8, 1008Hr
· JESD22-A108
· JIS C7021 B-8
고온보존 수명시험 소자를 고온에서 방치하는 경우 내성을 평가한다.
· Ta = TSTG MAX, 1008Hr
· JESD22-A103
· JIS C7021 B-10
저온보존 수명시험 소자를 저온에서 방치하는 경우 내성을 평가한다.
· Ta = TSTG MAX, 1008Hr
· JESD22-A119
· JIS C7021 B-12
고온.고습보존수명시험 소자를 고온. 고습도에서 장시간 사용 및 보관(방치)하였을 경우 내성을 평가한다.
· Ta = 85℃, RH = 85%
· JESD22-A101
· JIS C7021 B-11
납 내열성시험 소자를 납땜 작업중에 받는 열(熱)에 대한 내성을 평가한다.
· THD 시험 조건 : TSOL = 400℃, 3초 Dip
· SMD 시험조건

Ta = 150℃, 24Hr ⇒ Ta = 85℃, RH = 85%, 168Hr ⇒
TSOL = 265℃, 10초 Dip

· JESD-B106
· J-STD-020
· JIS C7021 A-1
온도 사이클 시험 (기체) 소자를 고온 또는 저온에 노출했을 때 내열 및 내한성을 평가한다.
· Ta = TSTG MIN ⇒ TSTG MAX, 200Cycle
· JESD22-A104
· JIS C7021 A-4
온.습도 사이클시험 소자를 고온. 고습도하에서 온도변화를 받는 경우 소자의내성을 평가한다.
· Ta = -10℃ ⇒ 25℃ ⇒ 65℃ (1Cycle = 24Hr), 10Cycle
· JIS C7021 A-5
· MIL-STD 883E-1004
증기가압시험 Package에 대한 기밀성을 평가한다.
Ta = 121℃, RH = 100%, 2.0atm, 96 Hours
· JESD22-A102
· JIS C7021 A-6
납부착성 시험 단자의 납 부착성을 평가한다.
· Ta = 100℃, RH = 100%, 8Hr Aging ⇒ TSOL = 245℃ , 5sec
· JESD22-B102
· JIS C7021 A-2
진동시험 운반중이나 사용중 인가될 수 있는 진동에 대한 내성을 평가한다.
· f = 100㎐ ⇒ 2㎑ ⇒ 100㎐, Acceleration = 20G, Direction = X, Y, Z, 4분 4회
· JESD22-B103
· JIS C7021 A-10
단자강도시험 소자가 실장 또는 사용 중 단자에 가해지는 힘에 견딜 수 있는가를 평가한다.
· Angle = 90˚, 3회
· JESD22-B105
· JIS C7021 A-11
염수분무시험 소자의 염수 분무에 대한 내부식성을 평가한다.
· Ta = 35℃, Salt Sol = 5%, 24Hr Spray
· JESD22-A107
JIS C7021 A-12